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輪廓儀

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輪廓儀

輪廓儀

輪廓儀是對物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進行測試與檢驗的儀器。輪廓儀主要優點是可以直接測量某些難以測量到的零件表面,如孔、槽等的表面粗糙度,又能直接按某種評定標準讀數或是描繪出表面輪廓曲線的形狀,且測量速度快、結果可靠、操作方便。輪廓儀廣泛應用于機械加工、電機、汽配、摩配、精密五金、精密工具、刀具、模具、光學元件等行業。
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3D光學輪廓儀S neox

3D光學輪廓儀S neox

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型號: S neox
  • 產地:西班牙
  • 供應商:北京東方德菲儀器有限公司

    3D光學輪廓儀S neox 將共聚焦、干涉和多焦面疊加3種測量技術融合于一體,測量頭內無運動部件。3D光學輪廓儀S neox 為客戶展現全新的3D立體形貌。

非接觸式3D光學輪廓儀 S lynx

非接觸式3D光學輪廓儀 S lynx

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型號: S lynx
  • 產地:西班牙
  • 供應商:北京東方德菲儀器有限公司

    非接觸式3D光學輪廓儀S lynx是一款專為工業和研究所設計的全新非接觸式3D光學輪廓儀。它設計簡潔、用途多樣。S lynx能夠測量不同的材質、結構、表面粗糙度和波度,幾乎涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的高端形貌測量應用。Sensofar的核心專利是將共聚焦、干涉和多焦面疊加3種測量方式融于一體,確保了其完美的性能。配合SensoSCAN軟件系統,用戶將獲得難以置信的直觀操作體驗。

光學三維在線測量儀 S onix

光學三維在線測量儀 S onix

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型號: S onix
  • 產地:西班牙
  • 供應商:北京東方德菲儀器有限公司

    光學三維在線測量儀S onix的設計理念簡潔、穩健并易于組裝。S onix有著全面且靈活的測量能力,定位于多用途的工業在線測量系統。輕便、小尺寸的設計讓裝配變得更加簡單,可以任意方向進行組裝來滿足不同方向上的測量應用需求。

西班牙Sensofar光學3D在線測量儀 S mart

西班牙Sensofar光學3D在線測量儀 S mart

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型號: S mart
  • 產地:西班牙
  • 供應商:北京東方德菲儀器有限公司

    光學3D在線測量儀S mart是世界上首款將Focus varition(多焦面疊加)、Confocal(共聚焦)、VSI(白光干涉)三種成像技術融為一體 高性能在線光學三維形貌測量儀。

Profilm 3D光學輪廓儀

Profilm 3D光學輪廓儀

  • 品牌: 美國Filmetrics
  • 型號: Profilm 3D
  • 產地:美國
  • 供應商:優尼康科技有限公司

    低成本-高精度Filmetrics 讓光學輪廓測量價格更為實惠. Profilm3D 使用了最先進的垂直掃描干涉 (VSI) 結合高精確度相移干涉 (PSI) 測量.以前所未見的價格使得表面形貌研究進入次納米等級.100毫米自動XY樣品平臺你還為了每位使用者都需要的功能額外付費嗎? 我們每臺Profilm3D 都已將自動XY樣品平臺以及tip/tilt 功能列為標準配備最大視野The Profil

探針式表面輪廓儀 P-7

探針式表面輪廓儀 P-7

  • 品牌: 美國KLA
  • 型號: P-7
  • 產地:美國
  • 供應商:優尼康科技有限公司

    Surface Stylus Profilers 探針式表面輪廓儀 P-7KLA是全球半導體在線檢測設備市場最大的供應商,在半導體、數據存 儲、 MEMS 、太陽能、光電子以及其他領域中有著極高的市占率。P-7 是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統,歷經技術積累和不斷迭代更新,集合眾多技術優勢。P-7建立在市場領先的P-17臺式探針輪廓分析系統 的成功基礎之上

SmartWLI 傳統二維光學顯微鏡三維輪廓/形貌掃描升級方案

SmartWLI 傳統二維光學顯微鏡三維輪廓/形貌掃描升級方案

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI - Microscope
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI傳統光學顯微鏡升級技術 亞納米級分辨率白光干涉技術與三維表面形貌測量傳統二維光學顯微鏡可以升級為三維表面形貌測量裝置,極大提升應用效能。圖1.干涉物鏡通過接合器安裝于傳統光學顯微鏡,升級后的顯微鏡具備高分辨三維表面形貌測量功能顯微鏡的重要性不只在于研究與記錄,更在于產品質量監測與樣品表面分析。光學顯微鏡已經成為許多實驗室的標配設備。對于大多數樣品來說,傳統二維顯微鏡不足以獲得其表面所有形貌細節。因此,三維表面形貌測量技術正逐漸成為一種重要的表征手段。 圖2. 金屬表面二維、三維測量結果比較 其典型應用領域包括不同表面粗糙度試樣的三維表面形貌觀察(如晶片結構,鏡面,玻璃,金屬),臺階高度測定和曲面精確測量(如微型透鏡)。當前,許多研究機構都有三維表面形貌測量設備的采購需求。但事實上,只要滿足下列條件,世界上多數知名品牌的傳統光學顯微鏡都可以升級為高精度三維表面形貌測量設備:* 無限遠、中間像光學系統;* 反射明場照明系統;* CCD攝像頭接口;* 可更換物鏡的鏡筒位于德國Ilmenau的GBS公司已經成功利用其SmartWLI顯微鏡升級技術為蔡司、尼康、萊卡、奧林巴斯等眾多品牌的傳統光學顯微鏡完成升級工作。其基本原理為白光干涉一種成熟的三維表面形貌測量方法,測量精度可以達到亞納米量級。同傳統的單色光干涉技術大為不同,SmartWLI白光干涉技術采用相干長度達到2um的寬頻帶光。實際測量必須深入相干區域掃描,每隔70-80nm取樣。而單色光干涉技術多用激光,相干長度達到數千米,不能用來觀察納米級的區域。當光程差接近相干長度時,干涉差變得更小。通過參考面,以設定好的步頻移動被測物體,每移動一個步頻,記錄一個干涉圖樣,這樣大量干涉圖樣就以像素為單位記錄下來。若數據的采集與處理同時進行即可在數秒之內得到測量表面區域的高度信息(形貌特征)。GBS公司研發的Smart WLI軟件可以對測量數據進行高速運算。三維數據的計算任務轉交圖形處理器(GPU)完成,一百萬測量點的數據處理時間可從30秒降到1秒以內。SmartWLI顯微鏡升級技術特征德國GBS公司的SmartWLI 顯微鏡升級技術可以將傳統二維顯微鏡升級為先進的三維表面形貌測量設備。該技術涉及硬件組件包括:* 一套基于壓電效應、由電腦控制的定位系統(定位精度在納米量級);* 一款高質量的干涉透鏡;* 一款高靈敏度CCD攝像頭,帶有GigE接口;選件:電動XY軸平臺、高性能電腦與拼接技術,可實現大表面三維形貌測量。PC配置要求:因特爾i5處理器,微軟Windows操作系統,4G內存,具備高速計算能力 的英偉達圖形處理器(NVIDA GPU),TFT液晶顯示屏,鍵盤與鼠標。GBS SmartWLI顯微鏡升級技術選用的壓電調節器由德國Piezo System Jena公司開發研制。該款MIPOS透鏡調節器縱向方向(Z軸方向)掃描范圍可達500 um,可選擇相干透鏡(物鏡)的放大倍數在2.5倍到100倍之間。GBS公司開發的SmartWLI軟件具備操作直觀、數據分析快速、納米級精度顯示等優點,可以對采集到的三維測量數據進行基礎運算。經SmartWLI軟件處理后的三維測量結果,可再交由圖形分析軟件MountainsMap做進一步處理,最終可得到二維、三維表面形貌圖像、粗糙度、臺階高度、微粒分析與報告等。 基于圖形處理器GPU的高速運算功能,三維測量數據運算可以與形貌掃描同步進行。在不過度占用電腦中央處理器(CPU)與內存空間的前提下,實現大范圍的三維形貌測量。顯微鏡升級后的主要測量參數:縱向測量范圍: 最大可達400 um橫向測量范圍: 649 um×483 um (10倍物鏡);324 um×241 um (20倍物鏡) 129 um×96 um (50倍物鏡) (注意:上述數據皆為估算值,實際橫向測量范圍需參考用戶現有顯微鏡參數)縱向(Z軸)分辨率: <1 nm橫向分辨率: 1.66 um(10倍物鏡);0.96 um(20倍物鏡);700 nm(50倍物鏡) 掃描速度: 3.6 - 16 um/s 計算時間: 一百萬測量點數據/一秒內SmartWLI顯微鏡升級技術的其它優勢:* 無需新的設備技術,縮短培訓周期;* 利用現有測量平臺,節省實驗室空間;* 保留原有二維測量功能,兼具三維測量能力;* 立足用戶原有組件,大幅節省升級費用; (可利用組件包括:光源、鏡筒、鏡頭旋轉器、Z軸調節器、XY軸測量平臺)。* 全面的三維表面形貌測量功能自動拼接技術與鉆石磨削頭的三維表面形貌測量升級后的顯微鏡可以對鉆石磨削頭進行納米級分辨率的三維表面形貌測量,可得到表面鉆石的形貌和體積。我們可借助本次測量實例,深入了解一種SmartWLI 顯微鏡升級技術獨具的“自動拼接”功能 - 即將大量二維測量區域上的“干涉圖樣摞”再次疊加,生成更大檢測區域的三維圖像。軟件上的“自動拼接”功能結合硬件上的電動XY軸平臺,就可實現更大表面的三維形貌測量。 圖3.鉆石磨削頭三維表面形貌測量結果 (10倍物鏡,3×3陣列拼接) 圖3所示為選用10倍物鏡,以3×3陣列(9倍單位掃描區域),經“自動拼接”得到的三維表面形貌測量結果。借助“自動拼接”功能,可以在數分鐘內實現大表面(百倍以上單位測量區域)的三維形貌測量。結語:德國GBS公司SmartWLI 顯微鏡升級技術為傳統光學顯微鏡提供了一種全新的升級方式。經驗豐富的GBS工程師可以為您升級現有的顯微鏡,培訓操作人員。SmartWLI顯微鏡升級技術不但不會對用戶現有顯微鏡的固有功能造成損害或限制,還可以兼容其原有軟件。1) 德國GBS公司官網:www.gbs-ilmenau.de2) 德國WinWinTec公司(GBS中國市場渠道商)官網:www.winwintec.com

SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀

SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI Extended
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測量技術白光干涉測量技術廣泛應用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測量精度可以達到納米級別。SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀擁有納米級測試精度,外接PC或筆記本電腦進行實時數據分析。SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀功能全面,輕松應對各種測試環境。電動XY雙軸樣品臺匹配自動拼接程序,應對大面積測試任務。典型應用包括科學研究、質量控制和工藝管理。德國GBS公司SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀具備如下優點: 通用型 精度高 測速快 穩定可靠 自動拼接SmartWLI- 擴展型白光干涉三維輪廓儀技術參數:花崗巖基座、腳架電動X Y雙軸樣品臺(尺寸:226 x 232 mm2;移動范圍:76 x 52mm2) 測量端配物鏡轉換臺、同時兼容4款物鏡PC界面、Windows 7系統,NVIDIA 圖形處理器具備超速運算功能SmartWLI形貌測量軟件、“自動拼接”功能MountainsMap三維圖像處理軟件 MountainsMAP分析軟件作為一款高品質的表面成像與分析軟件,MountainsMAP 適合實驗室、研究機構及工廠各類機能表面的設計、測試或制造設備使用。MountainsMAP擁有一整套全面的解決方案,專用于表面外觀及形貌的成像與分析,提供詳盡的三維可視化測量報告。 SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀技術參數測量系統量測原理 白光干涉Z軸定位系統壓電效應調節系統高度量測范圍最大可達400 μm攝像頭參數CCD攝像頭;1624x 1234相素干涉物鏡系統放大倍數MAG視場范圍FOV (mm)橫向分辨率 (um)2.5 ×, 5 ×, 10 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×4.12 × 3.06 mm2 - 0.103 × 0.076mm210.54 μm - 0.55 μm光源LED測試時間通常<20秒軟件系統SmartWLI基于微軟Win7操作系統,64位表面形貌測量軟件;三維數據可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數據分析軟件,輪廓及三維影像結果輸出、測量數據預處理及后處理、德標(DIN)歐標( EN) ISO標準粗糙度及高度測定、串行處理及測試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF更多SmarWLI系列白光干涉三維輪廓儀產品信息,請訪問www.WinWinTec.com與 www.smartWLI.de(2012年1月技術數據)SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(一)-液態軸承SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(二)-晶片SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(三) - 鉆石工具SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(四)-透鏡工具SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(五)-金屬表面SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(六)-汽車車身表面SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(七)-粗糙度標準片SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(八) - 發動機汽缸

Bruker ContourGT 非接觸3D光學輪廓儀

Bruker ContourGT 非接觸3D光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: ContourGT
  • 產地:德國
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    ContourGT 非接觸3D光學輪廓儀 ContourGT表面計量系列產品用于生產和研發的非接觸式三維光學輪廓儀業界最高垂直分辨率極高的可靠性和最好的測量重復性最高的表面測量和分析速度最強的使用性,操作簡便,分析功能強大30年技術革新,實現非接觸式表面測量技術高峰ContourGT系列結合先進的64位多核操作和分析處理軟件,專利技術白光干涉儀(WLI)硬件和前所未有的操作簡易性,推出歷年來來最先進的3D光學表面輪廓儀系統。第十代光學表面輪廓儀擁有超大視野內埃級至毫米級的垂直計量范圍,樣品安裝靈活,且具有業界最高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中,最廣泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。業界最高的垂直分辨率,最強大的測量性能0.5倍至200倍的放大倍率,在極寬的測量范圍內,對樣品表面形狀和紋理進行表征。任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程提供了無以倫比的測量靈活性。高分辨率攝像頭可選配件,提高了橫向分辨率和GR&R測量的重復性。多核處理器下運行的Vision64? 軟件,大大提高三維表面測量和分析速度新的軟件設計使數據處理速度提高幾十倍。多核處理器和64位軟件使數據分析速度提高十倍。無以倫比的無縫拼接能力,可以把成千上萬個數據拼接成一張連續的完美圖像  測量硬件的獨特設計增強生產環境中的可靠性和重復性高亮度的雙LED照明專利技術提高測量質量。最佳化的硬件設計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。專利的自動校準能力確保了儀器與儀器之間的相關性,測量準確度和重復性。高度直觀的用戶界面,擁有業界最強的操作簡便和分析功能強大優化的用戶界面大大簡化測量和數據分析過程,從而提高儀器和操作者效率獨特的可視化操作工具為用戶提供易于學習和使用的數據分析選項用戶可自行設置數據輸出的界面 三十年技術創新,迎來第十代全新產品我們的干涉儀是世界上第一個包含了著名的垂直掃描干涉技術(VSI模式),掃描頭傾斜調整,專利的自動校準和雙LED照明等革新技術。ContourGT系列既結合了這些已被證實的設計功能,又在硬件上進行了大量的改進,從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復性最好的光學輪廓儀性能。 Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的,將近三十年的優越性能運行跟蹤記錄,從研究型實驗室到生產型工廠的上萬臺安裝記錄。 ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件,此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果,從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結果。OMM結合了Bruker專利的雙LED照明光源技術,在任何樣品任意放大倍數下均可提供卓越的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅動的多放大倍率檢測器可包含最大三個視場目鏡,以最大化放大倍率的靈活性和穩定性。ContourGT系列可選擇型號中,具有包含Bruker專利技術的內置一級標準自校準功能的能力,使得閉環掃描的性能最大化。此模塊包含一個參考信號,在儀器啟動時對系統進行自校準,然后連續監控并校正每次測量,以保證絕對的精確度和卓越的重復性。Bruker的傾斜調整支架設計可使得OMM傾斜,而不是樣品傾斜。這樣,被測量的樣品將總處于聚焦位置,并且在測量的視野中,確保了操作的一致性和簡易性。*這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。選配的馬達驅動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡,從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時,您的測試點始終處于聚焦和中心位置。在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。輔助操作燈泡*塔臺自動樣品臺傾斜調整支架*自校準功能*光學計量模塊(OMM)卓越的震動隔離性能*

DektakXT探針式表面輪廓儀/臺階儀

DektakXT探針式表面輪廓儀/臺階儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: DektakXT
  • 產地:美國
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創新性的設計,可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創新的頂峰,更加鞏固了其行業領先地位。不論應用于研發還是產品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。DektakXT 完美設計探針系統的評價體系受三個因素影響:能否重復測量,數據采集和分析速度快慢,操作的難易程度。這些因素直接影響了數據的質量和操作效率。DektakXT利用全新結構和和最佳軟件來實現可重復、時間短、易操作這三個必要因素,達到最佳的儀器使用效果。強化操作的可重復性 Delivering Repeatable MeasurementsDektakXT在設計上的幾個提高,使其在測量臺階高度重復性方面具有優異的表現,臺階高度重復性可以到達5?.使用single-arch結構比原先的懸臂梁設計更堅硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周圍環境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。同時,Bruker還對儀器的智能化電子器件進行完善,提高其穩定性,降低溫度變化對它的影響,并采用先進的數據處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會把可能引起誤差的噪音降到最低,DektakXT的系統因此可以更穩定可靠的實現對高度小于10nm的臺階的掃描。Single-arch結構和智能器件的聯用,大大降低了掃描臺的噪音,增強了穩定性,使其成為一個極具競爭力的臺階儀(表面輪廓儀)。提高數據采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis利用獨特的直接掃描平臺,DektakXT通過減少從得到原始數據到扣除背底噪音所需要的時間,來提高掃描效率。這一改進,大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描的掃描速度。在保證質量和重復性的前提下,可以將數據采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit數據采集分析同步操作系統Vision64,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時的數據分析處理效率。Vision64還具有最有效直觀的用戶界面,簡化了實驗操作設置,可以自動完成多掃描模式,使很多枯燥繁復的實驗操作變得更快速簡潔。完善的操作和分析系統 PerfectingOperationand Analysis與DektakXT的創新性設計相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上最實用簡潔的用戶界面,具備智能結構,可視化的使用流程,以及各種參數的自助設定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡便的實現各種類型數據的采集和分析。DektakXT 技術參數—臺階高度重復性5?—Single-arch設計大大提高了掃描穩定性—前置敏化器件,降低了噪音對測量的干擾—新的硬件配置使數據采集能力提高了40%—64-bit,這一Vision64同步數據處理軟件,使數據分析速度提高了十倍。功能卓越,操作簡易—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行—針尖自動校準系統讓用戶更換針尖不再是難事臺階儀(表面輪廓儀)領域無可撼動的世界領先地位—布魯克的臺階儀,體積輕巧,功能強大。—單傳感器設計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍

smartWLI Prime白光干涉三維輪廓儀

smartWLI Prime白光干涉三維輪廓儀

SmartWLI-Double Z-axis雙軸三維形貌輪廓儀

SmartWLI-Double Z-axis雙軸三維形貌輪廓儀

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI-Prime Double Z-axis
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI-Prime雙軸三維形貌輪廓儀配備0.1nm高分辨率的小量程Z軸和小于100nm分辨率的大量程Z軸 2015年11月,德國WinWinTec公司再次向市場推出了一款由我公司代理的SmartWLI品牌的三維相貌輪廓儀,該產品將兩種Z軸方向的移動控制模式整合在一起,是兩種模式一體化,可以實現兩種Z軸移動模式的自由切換,測量范圍從nm水平到mm水平,實現納米分辨率到亞微米分辨率,可測量不同類型的產品,適用于大輪廓形貌到微小形貌的多種應用需求。v產品特點 1.兩種Z軸移動控制模式,壓電陶瓷馬達控制小量程和步進電機控制大量程,整體測量范圍實現0.1nm~100mm; 2.小量程Z軸實現最大400um的測量范圍,測量分辨率在PSI模式下0.1nm; 3.大量程Z軸實現最大100mm的測量范圍,測量分辨率小于100nm; 4.Z軸方向移動的實現自動控制,通過相關軟件和控制手柄可自動對焦,同時Z軸采用自動拼接技術,實現整體全自動測量; 5.標配壓電陶瓷馬達控制的Z軸測量頭,樣品垂直方向測量最大高度:400um,測量分辨率PSI模式:0.1nm,VSI模式:1nm; 6.可選配不同放大倍數的標準干涉物鏡(2.5X,5X,10X,20X,50X,100X);配置控制和快速采集信號采集軟件SmartWLI_VIS。

SmartWLI 便攜式白光干涉三維輪廓儀

SmartWLI 便攜式白光干涉三維輪廓儀

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI Portable
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測量技術白光干涉測量技術廣泛應用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測量精度可以達到納米級別。SmartWLI - 便攜式白光干涉三維輪廓儀,專用于大尺寸部件表面形貌測量與分析。儀器操作簡單,測量時放置于樣品表面;獨有的三腳支架結構,方便曲面部件測量;外接筆記本電腦完成數據分析,測量結果立體直觀呈現。SmartWLI - 便攜式白光干涉三維輪廓儀外形緊湊、結構穩固,輕松應對多種測量環境;測速快,精度高,為工業用戶提供最優化的產品表面形貌測量條件,適用于產品工藝控制與質量管理。SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀具備如下優點:靈活便攜精度高測速快穩定可靠 SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀技術參數測量系統量測原理 白光干涉Z軸定位系統壓電效應調節系統高度量測范圍最大可達400 μm干涉物鏡系統放大倍數10×20×視場范圍(μm2)480 × 360320 × 240最小可分辨橫向寬度(μm)1.200.90工作距離(mm)7.44.7注:上述數據皆為估算值。垂直分辨率小于1 nm光源系統LED外觀尺寸270 mm(高)× 127 mm (寬) × 165 mm(長)毛重3 Kg 約值,取決于具體配置。操作界面筆記本電腦、Windows 7操作系統、DVD刻錄。量測時間通常小于1分鐘軟件系統SmartWLI基于微軟Win7操作系統,64位表面形貌測量軟件、三維數據可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數據分析軟件,輪廓及三維影像結果輸出、測量數據預處理及后處理、德標(DIN)歐標( EN) ISO標準粗糙度及高度測定、串行處理及測試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF

SmartWLI 標準型白光干涉三維輪廓儀

SmartWLI 標準型白光干涉三維輪廓儀

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI Basic
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI 標準型白光干涉三維輪廓儀--非接觸三維表面形貌測量技術 白光干涉測量技術廣泛應用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測量精度可以達到納米級別。 德國SmartWLI標準型白光干涉三維輪廓儀結構緊湊,精度高,測速快,滿足不同領域用戶的測量需求,廣泛應用于科學研究、質量管理與工藝控制。 德國SmartWLI標準型白光干涉三維輪廓儀具備如下優點: 1.結構緊湊 2.精度高 3.測速快 4.穩定耐用 5.經濟實惠MountainsMAP表面分析軟件與三維可視化測量報告作為一款高品質的表面成像與分析軟件,MountainsMAP適合實驗室、研究機構及工廠各類機能表面的設計、測試或制造設備使用。MountainsMAP擁有一整套全面的解決方案,專用于表面外觀及形貌的成像與分析,提供詳盡的三維可視化測量報告。SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(一) - 液態軸承SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(二) - 晶片SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(三) - 鉆石工具SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(四) - 透鏡工具SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(五) - 金屬表面SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(六) - 汽車車身表面SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(七) - 粗糙度標準片SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(八) - 發動機汽缸

SmartWLI大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀

SmartWLI大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI PortableLA
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測量技術技術特點:5cm直徑視場(光斑),800μm垂直測量高度,無需拼接即可在短時間內(通常1分鐘)完成大區域面積的三維形貌(輪廓)的測量任務!SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀,專用于車身、印刷滾筒、太陽能電池等工業產品的表面形貌測量與分析。儀器采用白光干涉測量原理,操作簡單, 可輕放于樣品表面執行測量任務。特有的三腳螺紋支架結構,便于測量彎曲表面。系統內置三束激光校準系統,便于迅速鎖定測量區域。外接筆記本電腦完成數據分析,測量結果立體直觀呈現。SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀方便攜帶、易于運輸。現場安裝與啟動幾分鐘內即可完成。適用于工業產品表面快速、納米級精度測量。SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀具備如下優點:靈活便攜操作簡單厘米級視場納米級精度典型應用領域包括:質量管理工藝控制產品研發 SmartVIS 3D測量軟件 歐元硬幣表面三維形貌測量圖數據分析與結果輸出:樣品表面三維形貌圖解表示幾何分析(長度、角度、面積測量;不規則區域、坑洞體積;樣品表面臺階高度與側面輪廓剖面圖)粗糙度分析(樣品粗糙度與表面波度)材料屬性分析(材料摩擦磨損實驗測定)區域計算與輪廓參數(滿足ISO 25178 : Sa, Sz… 與ISO 4287 : Ra, Rz…標準要求) SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀技術參數測量系統量測原理 白光干涉Z軸定位系統壓電效應調節系統高度量測范圍最大可達800 μm攝像頭參數CCD攝像頭;1624x 1234相素校平系統三束激光干涉物鏡系統視場范圍(mm2)35 x 35最小可分辨橫向寬度(um)28工作距離(mm)10垂直分辨率小于10nm光源系統LED外觀尺寸295 mm(高)× 180 mm (寬) × 245 mm(長)支架高度調節范圍(三腳螺紋支架)大約5-30 mm毛重約3.5 Kg 操作界面筆記本電腦、Windows 7操作系統量測時間通常小于1分鐘工作溫度10-35℃推薦工作溫度18-22℃軟件系統SmartWLI基于微軟Win7操作系統,64位表面形貌測量軟件、三維數據可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數據分析軟件,輪廓及三維影像結果輸出、測量數據預處理及后處理、德標(DIN)歐標( EN) ISO標準粗糙度及高度測定、串行處理及測試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF 車身部件表面三維形貌測試結果 印刷行業:激光凹版容積 (油墨消耗)工藝控制產品研 注塑行業:注塑機的校準 硅晶片表面波紋度與粗糙度測試 其它測試結果欣賞 其它測量結果欣賞

NanoSystem 非接觸式3D輪廓儀 NVM-6000P

NanoSystem 非接觸式3D輪廓儀 NVM-6000P

  • 品牌: 韓國Nano System
  • 型號: NVM-6000P
  • 產地:韓國
  • 供應商:安柏來科學儀器(上海)有限公司

    產品描述NVM-6000P是專用型設備,用于基板表面形貌的測量。基板上的Via Hole,Pad形狀,pattem形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。在高速測量下仍具有優秀的重復性和準確性,支持用戶設定測量條件和測量數據自動保存及分析功能。產品規格掃描范圍:0-180um(270um可選)垂直分辨率:WSI:0.5nm臺階高度重復性:0.5%(1σ)橫向分辨率:0.2-4um(取決于物鏡和FOV)工作臺面:510X405mm(程控)尺寸:1200(w)X1250(D)X1900(H)應用領域Nano View系列為LCD(液晶顯示器)、IC Package(芯片封裝)、Substrate(基板)、Build-up PCB(積層板)、MEMS(微機電系統),Engineering Surfaces(工程表面)等等領域提供納米級別精度的量測。

NanoSystem 非接觸式3D輪廓儀  Nano View-3000

NanoSystem 非接觸式3D輪廓儀 Nano View-3000

  • 品牌: 韓國Nano System
  • 型號: Nano View-3000
  • 產地:韓國
  • 供應商:安柏來科學儀器(上海)有限公司

    產品描述Nano View-3000是高端機型,包括:非接觸3D形貌測量,更廣的測量范圍(5mm可選),自動聚焦功能(可選),拼接和線路縱斷面等功能。產品規格干涉物鏡:5物鏡可選(程控)掃描范圍:0-180um(270um,5mm可選)垂直分辨率:WSI:0.5nm,PSI :0.1nm橫向分辨率:0.2-4um(取決于物鏡和FOV)傾斜度:±6°工作平臺:NV-P2020 200X200mm(程控)NV-P4050400X500mm(程控)應用領域Nano View系列為LCD(液晶顯示器)、IC Package(芯片封裝)、Substrate(基板)、Build-up PCB(積層板)、MEMS(微機電系統),Engineering Surfaces(工程表面)等等領域提供納米級別精度的量測。

NanoSystem 非接觸式3D光學輪廓儀 Nano View-2000

NanoSystem 非接觸式3D光學輪廓儀 Nano View-2000

  • 品牌: 韓國Nano System
  • 型號: Nano View-2000
  • 產地:韓國
  • 供應商:安柏來科學儀器(上海)有限公司

    產品描述Nano View-2000是經濟型機型,通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉臺可方便的進行放大倍數的轉換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。產品規格干涉物鏡:5個物鏡可選掃描范圍:0-180um(270um,5mm可選)垂直分辨率:WSI:0.5nm,PSI :0.1nm傾斜臺:±6°Z軸行程:100mm(手動)工作臺面:100X100mm(程控)應用領域Nano View系列為LCD(液晶顯示器)、IC Package(芯片封裝)、Substrate(基板)、Build-up PCB(積層板)、MEMS(微機電系統),Engineering Surfaces(工程表面)等等領域提供納米級別精度的量測。

汽車氣缸專用非接觸三維表面測量系統

汽車氣缸專用非接觸三維表面測量系統

  • 品牌: 德國Nanofocus
  • 型號: NanoFocus usurf cylinder
  • 產地:德國
  • 供應商:上海巨納科技有限公司

    產品采用多孔共聚焦技術,結合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影方式,可在短時間(約幾秒)內精確量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式,不會破壞樣品的表面,不需要在真空環境下測量,也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本,其在嚴酷的工作環境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測量漸變較大的高度時,跟其他方法相比,可以更精確量測物體高度,建立3D立體影像,優勢相當明顯。德國μsurf cylinder機臺是世界上唯一的一款專為測量桶狀內壁設計的非接觸式三維表面測量儀,并擁有超高光學分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析能力,被世界頂級的汽車廠商所應用。產品特點:耐用可靠無損測量光學分辨率高速度快,數秒內完成測量真實的3D數據產品功能:紋理分析(角度分析)粗糙度計算符合DIN EN ISO標準計算三維表面粗糙度參數磨損分析,缺陷檢測和體積參數應用領域:3D表面形貌2D的縱深形貌輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)表面粗糙度有利于提高成形性,改善外觀以及涂漆性能,降低磨損,提高效率usurf cylinder是一款為汽車行業度身定做的機臺設備,該產品還可以根據客戶需求進行自動編程,實現全自動化的拼接測量,并且自動生成測試報告和相關數據。目前大眾、奔馳、寶馬等汽車行業巨頭都在使用該設備,由于精度高,操作簡便,又是基于發動機引擎定制的機臺,可操作性很強,鋼桶內壁的測量始終是一個技術難關,現在usurf cylinder的研發頓時解決了這個技術難題,使得發動機技術部門的工程師只需要進行幾步簡單的操作即可完成測量。

激光掃描輪廓儀

激光掃描輪廓儀

  • 品牌: 德國Nanofocus
  • 型號: uscan custom
  • 產地:德國
  • 供應商:上海巨納科技有限公司

    n產品介紹μscan系列機臺采用模塊化設計,特點是快速測量、不接觸、不破壞、自動化。主要應用于材料表面的三維輪廓測量,粗糙度測量,寬度,高度,角度,半徑、粗糙度等二維、三維數據分析。能直接測量較大面積的樣品,而不用通過拼接。μScan的中心部件掃描模塊(x/y方向樣品掃描)可以和不同的傳感器(Z方向測量)連用,如Confocal point sensor(CF)、Autofocus sensor(AF)、Chromatic white light sensor(CLA)、Holographic sensor(CP)等。目前主配的是連接CF4激光共聚焦傳感器。CF4激光共聚焦傳感器內,被照亮的小孔成像在被測量的表面,激光光束經由物鏡迅速上下移動聚焦于待測物上,只有當焦平面和真實表面的點配對的時候,探測器才記錄到一個表面信號。因此物鏡得通過小的垂直步位移動,使信號通過位移傳感器的位置移動被測出。根據特殊的內插技術,該系統的精度能達到10nm以下。n應用ü集成電路封裝和表面貼裝:快速獲得封裝翹曲變形、引線共面性、粗糙度、焊料的體積、引線輪廓。ü厚膜混合電路:膜厚度的自動化測量ü精密部件:測量精密五金配件、塑料、半導體材料的輪廓、粗糙度等n技術參數1.測量原理:非接觸,激光共聚焦2.掃描模塊:2.1XY方向測量范圍50X50mm/100X100mm/150X100mm/200X200mm(可選),馬達驅動2.2XY方向平臺分辨率0.5um2.3Z方向位移范圍100mm2.4最大測量速度50mm/S.3.傳感器模塊3.1共聚焦傳感器,激光光源1.5μm spot size,1 kHz data rate3.2Z方向分辨率0,02um3.3XY方向分辨率1um,可連續一次掃描成像,最大范圍達到200mmX200mm3.4工作距離4mm3.5Z方向測量范圍1mm4系統配置4.1計算機:高性能計算機控制系統;4.2配有專業工作臺,尺寸L1000 x H750 x W800 (mm)4.3可為CF傳感器選配離軸攝像頭(10X),最大視野8 x 6 mm24.4功能全面的軟件4.5數據分析:輪廓測量、寬度,高度,角度,半徑、粗糙度等二維、三維數據分析設備咨詢聯系人:Ronnie Chen電話:+86-13651969369 +86-21-61533166

移動式3D測量系統

移動式3D測量系統

  • 品牌: 德國Nanofocus
  • 型號: usurf mobile
  • 產地:德國
  • 供應商:上海巨納科技有限公司

    n產品介紹μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術,結合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影方式,可在短時間(約幾秒)內精確量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式,不會破壞樣品的表面,不需要在真空環境下測量,也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本,其在嚴酷的工作環境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測量漸變較大的高度時,跟其他方法相比,可以更精確量測物體高度,建立3D立體影像,優勢相當明顯。NanoFocus μsurf mobile移動式3D測量系統,適用于對大型樣品的測量,所以可以在很多惡劣的環境下進行使用,并且不會影響到使用壽命。當人們還在為測量物體太過于龐大而一籌莫展時,μsurf mobile移動式3D測量系統的橫空出世徹底解決了人們的這個困惑,該機臺不需要移動龐大的被測物體,只需要帶著便捷的μsurf mobile,放在被測物體上,就可以在短時間內得出精確的三維表面形貌。n應用μsurf系列用來測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。μsurf mobile主要對大型樣品進行測試,在以下幾個行業中被眾多知名企業廣泛使用:ü汽車行業ü印刷和造紙行業ü鋼鐵行業n技術參數LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h測量時間:5~10秒測量原理:非接觸、共聚焦、可移動,可以檢測大型的物體X/Y方向移動范圍:50mmX50mm,馬達驅動,X/Y方向分辨率:0.3μmZ方向移動范圍:35mmZ方向測量范圍:250μm,Z方向分辨率:< 10nm物鏡:10X、20X、50X、100X(可選)計算機:高性能計算機控制系統,功能強大且全面的軟件,有拼接功能工作電源:90-265 V, 50-60 Hz, input < 50 W(也可用電池做電源)材質:鋼鐵、橡膠、大理石外型尺寸:380*110*115mm重量:5.5KG(不含防震拉桿箱)潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)設備咨詢聯系人:Ronnie Chen電話:+86-13651969369 +86-21-61533166

太陽能電池3D顯微鏡

太陽能電池3D顯微鏡

  • 品牌: 德國Nanofocus
  • 型號: μsurf solar
  • 產地:德國
  • 供應商:上海巨納科技有限公司

    產品介紹usurf系列產品采用多孔共聚焦技術,結合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影方式,可在短時間內(約幾秒)精確量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式,不會破壞樣品的表面,不需要在真空環境下測量,也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本,其在嚴酷的工作環境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測量漸變較大的高度時,跟其他方法相比,可以更精確量測物體高度,建立3D立體影像,優勢相當明顯。NanoFocus usurf solar太陽能電池3D顯微鏡,可以對太陽能電池片進行自動化測量,廣泛適用于單晶、多晶和薄膜太陽能電池片,一分鐘內可以自動測量12個區域,是質量檢驗和生產控制中的最有效的光學三維表面測量和分析工具。可以進行太陽能電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測量,制絨后3D形貌表征(單晶金字塔大小、數量、角度、比表面積,多晶腐蝕坑形貌、密度),粗糙度分析,以及減反射層腐蝕表面的測量,薄膜小孔的檢測和自動分析。 作為太陽能行業必要設備,usurf solar太陽能電池3D顯微鏡從硬件到軟件均是針對太陽能行業定制開發出來的,其測量樣品的平臺帶有真空吸盤,可以承受210mmX210mm的樣品,能確保太陽能電池片移動時不破壞。適用usurf solar有利于控制生產工藝,提高效率,是質量的可靠保證。技術參數 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測量時間:2~10秒 測量原理:非接觸、共聚焦 X/Y方向:平臺移動范圍200mmX200mm,馬達驅動,最大移動速度40 mm/s,X/Y方向分辨率:0.3μm Z方向測量范圍:500μm,Z方向分辨率:1nm 物鏡:10X、20X、50X、100X(可選) 離軸攝像頭(10X),最大視野8 x 6 mm2(選配) 計算機:高性能計算機控制系統,功能強大且附帶全面解決方案的自動化軟件 工作電源:100-240V, 50-60Hz,input: 550 VA 材質:鋼鐵、橡膠、大理石 潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

usurf custom光學輪廓儀

usurf custom光學輪廓儀

  • 品牌: 德國Nanofocus
  • 型號: usurf custom
  • 產地:德國
  • 供應商:上海巨納科技有限公司

    產品介紹 usurf系列產品采用多孔共聚焦技術,結合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影方式,可在短時間(約幾秒)內精確量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式,不會破壞樣品的表面,不需要在真空環境下測量,也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本,其在嚴酷的工作環境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測量漸變較大的高度時,跟其他方法相比,可以更精確量測物體高度,建立3D立體影像,優勢相當明顯。 NanoFocus μsurf custom三維共聚焦表面測量系統,可以根據客戶的具體需求進行樣品平臺和軟件的定制,功能齊全,可以自動測量,能精確捕捉樣品的三維結構和微納米尺度的復雜幾何形狀,并擁有超高光學分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析處理能力。該機臺還配備了整合計算機和測量系統的工作臺,可以將一些測試報告等資料放在工作臺的抽屜里,便捷可靠。應用 usurf系列用來測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。 精密部件:檢測對表面磨損,表面粗糙度,表面微結構有要求的零部件,比如發動機汽缸、刀口等; 生命科學:測量stents支架上鍍層厚度等 微電子機械系統:微型器件的檢測,醫藥工程中組織結構的檢測,如基因芯片等 半導體:檢測微型電子系統,封裝及輔助產品結構設計 太陽能:太陽能電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測量,制絨后3D形貌表征(單晶金字塔大小、數量、角度,多晶腐蝕坑形貌、密度),粗糙度分析等 紙張:紙張、錢幣表面三維形貌測量 LED:用于藍寶石襯底的測量,抽檢PSS ICP后的WAFER的3D形貌技術參數 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測量時間:2~10秒 測量原理:非接觸、共聚焦 X/Y方向:平臺移動范圍:100mmX100mm/200mmX200mm/300mmX300mm(大小可選),馬達驅動,X/Y方向分辨率:0.3μm Z方向測量范圍:350μm,Z方向分辨率:< 1nm 物鏡:10X、20X、50X、100X(可選) 離軸攝像頭(10X),最大視野8 x 6 mm2(選配) 計算機:高性能計算機控制系統,功能強大且全面的軟件,有拼接功能 配有專業工作臺:尺寸1550x800x750 mm (LxWxH) 工作電源:100-240V, 50-60Hz,input: 550 VA 材質:鋼鐵、橡膠、大理石 重量:約150KG+80KG 潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

usurf explorer光學輪廓儀

usurf explorer光學輪廓儀

  • 品牌: 德國Nanofocus
  • 型號: usurf explorer
  • 產地:德國
  • 供應商:上海巨納科技有限公司

    產品介紹 μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術,結合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影方式,可在短時間(約幾秒)內精確量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式,不會破壞樣品的表面,不需要在真空環境下測量,也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本,其在嚴酷的工作環境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測量漸變較大的高度時,跟其他方法相比,可以更精確量測物體高度,建立3D立體影像,優勢相當明顯。 NanoFocus μsurf explorer機臺功能齊全,結構緊湊,性價比高,并擁有超高光學分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析能力。 應用 μsurf系列用來測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。 精密部件:檢測對表面磨損,表面粗糙度,表面微結構有要求的零部件,比如發動機汽缸、刀口等; 生命科學:測量stents支架上鍍層厚度等 微電子機械系統:微型器件的檢測,醫藥工程中組織結構的檢測,如基因芯片等 半導體:檢測微型電子系統,封裝及輔助產品結構設計 太陽能:電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測量,制絨后3D形貌表征(單晶金字塔大小、數量、角度,多晶腐蝕坑形貌、密度),粗糙度分析等 紙張:紙張、錢幣表面三維形貌測量技術參數 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測量時間:5~10秒 測量原理:非接觸、共聚焦 X/Y方向,平臺移動范圍:50mmX50mm,馬達驅動,分辨率:0.3μm Z方向測量范圍:250μm,分辨率:2nm 物鏡:10X、20X、50X、100X(可選) 計算機:高性能計算機控制系統,功能全面的軟件,有拼接功能, 工作電源:100-240V, 50-60Hz, input<45W 材質:鋼鐵、橡膠、大理石 外型尺寸:710x270x330 mm (HxWxD) 重量:28KG 潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

布魯克Contour Elite 三維光學顯微鏡

布魯克Contour Elite 三維光學顯微鏡

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: Contour Elite
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    可信計量、逼真成像、清晰結果?逼真成像與可信測量數據的結合?簡易直觀的操作界面提供良好的用戶體驗?更快速地解決復雜研究和生產要求下的各種挑戰布魯克Contour Elite三維光學顯微鏡在已經業界廣泛使用的技術領先的平臺上,進一步增強Vision64軟件的用戶易用性,創新性加入全新的成像軟硬件,拓展高保真成像能力。在要求極高的研發、質量控制領域,Contour Elite可為用戶提供高速、準確和重復性極佳的測量結果。同時,它為用戶提供在通常共聚焦顯微鏡下能得到的成像與顯示效果,如彩色影像等。建立在Wyko專有白光干涉儀基礎上,歷經三十多年軟硬件的積累與創新,布魯克Contour Elite系統提供了直觀可視化的操作界面,豐富的用戶自定義方式,自動化程序控制功能,以及最快速、廣泛適用的表面三維形貌的高保真成像與準確測量,來保證各種領域研發、生產應用的測試需求。Contour Elite K高穩定性,具備一定防震性能設計的桌面式型號Contour Elite I全自動,有集成防震墊設計的桌面式型號Contour Elite X全自動,集成落地式防震臺的型號

ContourGT 非接觸3D光學輪廓儀

ContourGT 非接觸3D光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: ContourGT
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    ContourGT表面計量系列產品 用于生產和研發的非接觸式三維光學輪廓儀 業界最高垂直分辨率 極高的可靠性和最好的測量重復性 最高的表面測量和分析速度 最強的使用性,操作簡便,分析功能強大 30年技術革新,實現非接觸式表面測量技術高峰 ContourGT系列結合先進的64位多核操作和分析處理軟件,專利技術白光干涉儀(WLI)硬件和前所未有的操作簡易性,推出歷年來來最先進的3D光學表面輪廓儀系統。第十代光學表面輪廓儀擁有超大視野內埃級至毫米級的垂直計量范圍,樣品安裝靈活,且具有業界最高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中,最廣泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。 業界最高的垂直分辨率,最強大的測量性能 0.5倍至200倍的放大倍率,在極寬的測量范圍內,對樣品表面形狀和紋理進行表征。 任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程提供了無以倫比的測量靈活性。 高分辨率攝像頭可選配件,提高了橫向分辨率和GR&R測量的重復性。 多核處理器下運行的Vision64 軟件,大大提高三維表面測量和分析速度 新的軟件設計使數據處理速度提高幾十倍。 多核處理器和64位軟件使數據分析速度提高十倍。 無以倫比的無縫拼接能力,可以把成千上萬個數據拼接成一張連續的完美圖像 測量硬件的獨特設計增強生產環境中的可靠性和重復性 高亮度的雙LED照明專利技術提高測量質量。 最佳化的硬件設計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。 專利的自動校準能力確保了儀器與儀器之間的相關性,測量準確度和重復性。 高度直觀的用戶界面,擁有業界最強的操作簡便和分析功能強大 優化的用戶界面大大簡化測量和數據分析過程,從而提高儀器和操作者效率 獨特的可視化操作工具為用戶提供易于學習和使用的數據分析選項 用戶可自行設置數據輸出的界面 三十年技術創新,迎來第十代全新產品 我們的干涉儀是世界上第一個包含了著名的垂直掃描干涉技術(VSI模式),掃描頭傾斜調整,專利的自動校準和雙LED照明等革新技術。 ContourGT系列既結合了這些已被證實的設計功能,又在硬件上進行了大量的改進,從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復性最好的光學輪廓儀性能。 Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的,將近三十年的優越性能運行跟蹤記錄,從研究型實驗室到生產型工廠的上萬臺安裝記錄。 卓越的震動隔離性能* ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件,此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果,從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結果。 光學計量模塊(OMM) OMM結合了Bruker專利的雙LED照明光源技術,在任何樣品任意放大倍數下均可提供卓越的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅動的多放大倍率檢測器可包含最大三個視場目鏡,以最大化放大倍率的靈活性和穩定性。 自校準功能* ContourGT系列可選擇型號中,具有包含Bruker專利技術的內置一級標準自校準功能的能力,使得閉環掃描的性能最大化。此模塊包含一個參考信號,在儀器啟動時對系統進行自校準,然后連續監控并校正每次測量,以保證絕對的精確度和卓越的重復性。 傾斜調整支架* Bruker的傾斜調整支架設計可使得OMM傾斜,而不是樣品傾斜。這樣,被測量的樣品將總處于聚焦位置,并且在測量的視野中,確保了操作的一致性和簡易性。 *這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。 自動樣品臺 在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。 塔臺 選配的馬達驅動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡,從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時,您的測試點始終處于聚焦和中心位置。 輔助操作燈泡* 在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。 布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 歡迎訂閱優酷上Bruker Nano Surfaces的相關視頻,觀看最新的AFM產品和相關技術進展,以及歷屆網絡研討會和培訓資料,精彩內容持續更新中! http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy 布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces 北京辦公室 北京市海淀區中關村南大街 11號光大國信大廈6層 6218室 電話:010-68474806 -630 傳真:010-88417855 上海辦公室 上海市徐匯區漕河涇開發區桂平路 418號新園科技廣場 19樓 E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 產品咨詢熱線:400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

NPFLEX 3D 光學輪廓儀

NPFLEX 3D 光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: NPFLEX 3D
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    NPFLEX 三維表面測量系統 針對大樣品設計的非接觸測試分析系統 靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品 高效的三維表面信息測量 垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節 快速獲取測量數據,測試過程迅速高效 NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準確測量 布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統為精密制造業帶來前所未有的檢測能力,實現更快的測量時間,提高了產品質量和生產力。基于白光干涉的原理,這套非接觸系統提供的技術性能超出了傳統的的接觸式坐標測量儀(CMM)和工業級探針式輪廓儀的測量技術。測量優勢包括獲得高分辨的三維圖像,進行快速豐富的數據采集,幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術和大樣本的儀器設計的經驗,NPFLEXTM是第一個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學測量系統,而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。 其靈活性表現在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品 創新性的空間設計使得可測零件(樣品)更大、形狀更多 開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位 高效的三維表面信息測量 每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的 更容易獲得更多的測量數據來幫助分析 垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節 干涉技術實現每一個測量象素點上的亞納米級別垂直分辨率 工業界使用多年業已驗證的干涉技術提供具有統計意義的數據,為日漸苛刻的加工工藝提供保障 測量數據的快速獲取保證了測試的迅速和高效 最少的樣品準備時間和測量準備時間 比接觸法測量(一條線)更大的視場(一個面)獲得表面更多的數據 為客戶量身訂做最合適的儀器配置 NPFLEX在基本配置的基礎上,還有很多備選的配件和配置方案, 滿足不同客戶的測量需求: 可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位,測量樣品的側壁、傾斜表面以及斜面邊緣,重復性好。 獲得研發大獎的透過透明介質測量模塊(Through Transmissive Media,TTM)模塊,,結合環境測試腔,可以穿透5cm厚的色散材料,可對樣品進行加熱或者冷卻,進行原位測量。 可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側壁和底部孔洞。 納米級分辨率的三維表面信息測量 大家對很多樣品的表面性質感興趣,但是要獲得這些品性質,需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應用在航空航 天,汽車,醫療植入產業的大尺寸樣品,往往只能借助于二維接觸式檢測工具進行表征,獲得的只是一條線測量數據。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓,但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細節信息。NPFLEX測試系統采用白光干涉原理,在每一個測量點可以實現表面形貌的三維信息收集,且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數據不受探針曲率半徑的局限,高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結果,更多的測量數據來幫助分析樣品性質。 快速獲取數據,保證測試迅速高效 NPFLEX三維測量系統,能夠靈活高效的獲取大量測試數據。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設置時間,操作者可以快速更換樣品,而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下,對樣品的不同表面進行測量。僅需要不到15秒的時間,就可以出色地完成一個測量點的數據采集和分析工作。自動對焦,光強調節以及其他配套軟件功能,大大節約了測試分析時間,而且可以根據操作者的實驗需求,量身定做最優化的實驗方案,而不影響數據的精度和質量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準確地獲得大型零部件的高精度測量結果,提供一站式的測量解決方案。 布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 歡迎訂閱優酷上Bruker Nano Surfaces的相關視頻,觀看最新的AFM產品和相關技術進展,以及歷屆網絡研討會和培訓資料,精彩內容持續更新中! http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces 北京辦公室 北京市海淀區中關村南大街 11號光大國信大廈6層 6218室 電話:010-68474806 -630 傳真:010-88417855 上海辦公室 上海市徐匯區漕河涇開發區桂平路 418號新園科技廣場 19樓 E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 產品咨詢熱線:400-890-5666 www.bruker.cn\SOM

Wyko NT9100 光學輪廓儀 Wyko NT9100 光學輪廓儀

Wyko NT9100 光學輪廓儀 Wyko NT9100 光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: NT9100
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    儀器簡介: NT9100光學輪廓儀是一款使用便利、性能卓越,性價比高的非接觸無損傷三形貌維測量儀器。Wyko最新的第九代系統采用獨有的雙LED照明光源專利技術,能夠更好的檢測超光滑表面及非常粗糙的表面;它的測量范圍可達亞納米級粗糙度到毫米級的臺階高度。作為第九代白光干涉儀的桌面機臺,NT 9100同樣具有大機臺才有的優點:簡單易用的操作方式、快速數據獲取能力、強大的軟件功能及埃級的重現性等。同時,可選配的X-Y自動平臺,使NT9100具有程序化處理樣品的功能。 技術參數: 1、縱向掃描范圍:0.1nm~1mm (標配) 2、最大掃描速度:24um/s 3、樣品臺尺寸:100mm 主要特點: 1. 非接觸測量 2. 重復性高 3. 測量精度高

WYKO NT9800 光學輪廓儀 WYKO NT9800 光學輪廓儀

WYKO NT9800 光學輪廓儀 WYKO NT9800 光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: NT9800
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    儀器簡介:Wyko NT9800 光學輪廓儀在0.1nm 到 10mm 的垂直掃描范圍內提供了非接觸式高速高精度三維表面測量工能,縱向分辨率可達0.1nm。NT9800 采用了Veeco專利的內部實時激光參考信號進行持續的自校準,減小了通常情況下使用標準塊校準設備的需要,并且能夠補償工作環境下系統產生的熱漂誤差。作為業內領先的第九代Wyko NT系列光學輪廓儀產品,NT9800 具有最高的自動化水平,友好的用戶界面,以及業內最好的Wyko Vision分析軟件系統。眾多先進技術的集成、經過長期實用驗證的測量技術核心以及適合于各種專業應用需要的軟件功能,使 NT9800 成為世界上最先進的光學干涉測量設備,可滿足MEMS、金屬研究、材料科學、半導體、醫用器械等眾多領域科研和生產工作中對高精度自動化表面測量的需要。技術參數:1、縱向掃描范圍:0.1nm~1mm (標配) 2、垂直掃描速度:25um/s 3、樣品臺尺寸:200mm主要特點:1. 非接觸測量 2. 重復性高 3. 測量精度高

WYKO NT9300 光學輪廓儀 WYKO NT9300 光學輪廓儀

WYKO NT9300 光學輪廓儀 WYKO NT9300 光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: NT9300
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    儀器簡介:Wyko NT9300采用了Veeco第九代光學輪廓探測技術,在0.1nm到10mm的垂直掃描范圍內提供了快速、高精度的三維表面形貌測量功能,是大范圍表面測量、數據縫合以及不規則樣品測量的理想設備。專利的雙路LED照明源顯著提高了光強并延長了光源器件的使用壽命,使操作者的各種測量應用都能獲得最佳效果。無論操作者經驗水平如何,XYZ三向可編程控制馬達驅動的工作臺系統以及Veeco獨有的Tip/Tilt傾斜測量裝置都使得測量工作變得異常輕松。業內領先的Wyko Vision軟件系統為用戶提供了超過200種的分析功能和自動測量控制功能。NT9300集先進的硬件結構與軟件系統于一身,是一款滿足實驗室科研以及工業生產批量自動化在線檢測應用需要的高性能表面檢測設備。技術參數:1、縱向掃描范圍:0.1nm~10mm (標配) 2、最大掃描速度:24um/s 3、樣品臺尺寸:200mm XY自動樣品臺(標配)主要特點:1. 非接觸測量 2. 重復性高 3. 測量精度高

Dektak 8 探針輪廓儀(臺階儀) Dektak 8 探針輪廓儀(臺階儀)

Dektak 8 探針輪廓儀(臺階儀) Dektak 8 探針輪廓儀(臺階儀)

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: DEKTAK 8
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    儀器簡介:Dektak8臺階式探針輪廓儀,結構緊湊,可提供很高的重復性和精度。獨特的XY方向定位系統可移動到8x8inch區域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理,還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點高度、纖維光學元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak8系統對于MEMS,納米技術和半導體應用都非常方便。技術參數:臺階高度重復性: 7.5,1σ在1um標準臺階上 最大晶圓尺寸:200mm 最大樣品厚度:25.4mm (1 in.) 每次掃描數據點:最多可達60,000數據點 掃描長度范圍:標配最大50mm 垂直范圍:標配262um;可選1mm 最大垂直分辨率:1 (6.55微米垂直范圍下)主要特點:1. 臺階高度測量重復性高 2. 是功能最為強大的探針輪廓儀,可最大限度的滿足各種應用需要 3. 簡單易用 4. 作為一款桌面型輪廓儀,掃描范圍可達200mm

Filmetrics Profilm3D 光學輪廓儀

Filmetrics Profilm3D 光學輪廓儀

納米級三維測量儀

納米級三維測量儀

  • 品牌: 德國Klocke Nanotechnik
  • 型號: KLOCKE
  • 產地:德國
  • 供應商:北京匯德信科技有限公司

    儀器簡介: 德國Klocke Nanotechnik公司生產的納米級三維測量儀(3D Nanofinger)俗稱納米三坐標,是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統組合,進行在線檢測、質量控制等。系統擁有5個自由度,可以根據樣品設定測量路徑,測量范圍達到厘米級甚至更大。現已廣泛應用于超精密機械加工、MEMS器件、半導體微電子加工、光學、分子生物學和精密工程。技術參數:設備主要參數: 測量范圍: X = 10, 20 or 50 mm Y = 10, 20 or 50 mm Z = 10 or 20 mm 采用花崗巖基底,XY方向行程擴展為: 100 x 100 mm2 or 350 x 350 mm2 測量特性: 運動分辨率: 1 nm 針尖分辨率: 0.5 nm 水平與豎直方向均配有操縱傳感器 線形輪廓測量 樣品內部與外部輪廓測量 坐標測量功能 測量用探針: 針尖型金屬絲, 尖端半徑 < 100 nm 鉤型金屬絲, 尖端半徑< 100 nm 圓形針尖, 直徑 0.12-0.3 mm 金剛石針尖, 如用于表面壓痕 軟件: 針尖自動校準與逼近 2D 和 3D 圖形功能 分析軟件 自動化模塊選項(序列發生器)可選擇的配置: 小型花崗巖平臺式3D-Nanofinger 便攜式3D-Nanofinger 3D-Nanofinger 模塊,如集成到CNC機床內部 適合電鏡中安裝的3D-Nanofinger 模塊 可安裝到多功能檢測工作臺中 附件: 納米精度自動旋轉平臺 攝像機 圖形識別系統主要特點:1.納米精度測量,而且是三維方向都可保持統一的精度。 2.測量量程跨越納米到厘米,甚至分米級。 3.多功能多參數測量設備,可以涵蓋三坐標、輪廓儀、形貌儀、粗糙度儀等的功能。 4.用戶可以設定測量路徑,這樣就能沿著樣品形狀進行測量。適合復雜輪廓測試。 5.配合多種不同功能的探針,可以完成一般輪廓儀無法進行的結構測量。特別是結構內部。 6.用戶可以根據需要靈活設置測量方法,可以進行大面積精確測量,也可以先進行大面積低精測量,然后對特定感興趣的區域進行高精測量,以節省時間。 7.整個過程非接觸的,間距可以保持在可以設定為幾個納米。適合各種固態樣品測量,對材料性質沒有特別要求和限制。 8.布局靈活,根據用戶測試要求組成合適的系統。平臺可以任意組合,探頭也以改變安裝方向。 9.如果和微加工設備組合,可以實現在線測量。更多信息,請查看公司網站:http://www.germantech.com.cn/new/cplook.asp?id=369

TRACEiT? 便攜式表面三維形貌儀

TRACEiT? 便攜式表面三維形貌儀

  • 品牌: 德國INNOWEP
  • 型號: TRACEiT?
  • 產地:德國
  • 供應商:奧碼拓(北京)科技有限公司

    TRACEIT便攜式三維形貌儀 我公司設計了世界上第一臺便攜式光學三維形貌儀,10秒鐘即可精確測量材料表面的三維輪廓,粗糙度Ra/Rq/Rz,孔隙率,有效接觸面積,并同時原位記錄材料表面的視覺圖像。我公司有兩款便攜式三維形貌儀(TRACEiT-MICRO和TRACEiT-MIDI),其快速,便捷,準確的測量方法幾乎可以在任何地點進行測量,廣泛應用于產品的質量檢驗和研發中。 應用領域 對文物清洗效果進行無損檢測、評估 修復、加固效果評估 古代紙張、絲織品分析鑒定 用于考古現場記錄 汽車、航空、船舶工程(皮革、紡織品、涂裝、塑) TRACEiT-MICRO便攜式光學三維形貌儀 基本介紹 TRACEiT-MICRO便攜式光學三維形貌儀包含一個手持式光學測量頭和專用便攜式電腦,在5mm×5mm范圍內對x及y方向各進行高達1500次的測量,從而得出平均數值及標準偏差。同時,設備的專用軟件還可進一步評估特定范圍內材料表面的性能。該儀器擁有封閉式設計,因此其測量結果重復性和再現性高。 設備優點 ★ 精度高 ★快速測量 ★便攜式設計 ★多參數數據分析 ★重復性、再現性高 ★專利技術可同時測量三維形貌和視覺效果 技術參數 精確度 1.5m 測量面積 5mm×5mm 測量時間 10秒 Z軸測量高度 800m TRACEiT-MIDI便攜式光學三維形貌儀 基本介紹 TRACEiT-MIDI便攜式光學三維形貌儀包含一個手持式光學測量頭,專用便攜式數據采集系統,ipod操作控制系統。最大測量范圍可達標準A4紙,精確度可達100um。同時,專用軟件還可用來進一步評估特定區域內材料表面的性能。 設備優點 ¤ 便攜式設計 ¤專利技術可同時測量三維形貌和視覺效果 ¤同時3D建模 ¤便捷使用 ¤精度高 ¤重復性、再現性高 ¤快速測量 ¤多參數數據分析:粗糙度,高度,深度等 技術指標 精確度 100m 測量面積 300mm×200mm 測量時間 10秒 Z軸測量高度 800mm 備選設備 COPRA掃描計算系統 該系統可以用來計算材料的 ☆表面結構 ☆涂層 ☆印壓 ☆磨耗及磨損 ☆顆粒度及孔隙度 該掃描計算系統特別設計用來整理及評估磨損結果,亦可用于評估其他各種表面的特性。計算參數包括: 顆粒度分布(數量、面積、大小及百分比) 平均值(包含標準偏差) 孔隙度分布 灰階表面形貌影像的高度分析 方位長度剖面 磨耗及磨損分析

三維輪廓儀

三維輪廓儀

  • 品牌: 美國AEP Technology
  • 型號: NanoMap-D
  • 產地:美國
  • 供應商:aep Technology中國辦事處

    儀器簡介: NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結構測量和表面形貌分析的一款測量計量型設備。既可以 用于科學研究,也可以用于工業產品的檢測。 1、三維表面結構:粗糙度,波紋度,表面結構,缺陷分析,晶粒分析等 2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等 3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的臺階高度測量 5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量 6、微電子表面分析和MEMS表征 主要特點: 高精度 卓越的縱向分辨率:0.1 nm ( 接觸式);2 nm(光學非接觸式) 對周圍環境和光源的強適應性 沒有機械過濾 寬闊的垂直測量范圍 多種選擇光學頭及接觸式 縱向掃描范圍 300 to 3900 m 圖像“縫合”技術使再大的表面也能呈現在一幅圖像內 試用于幾乎所有的表面 透明,不透明,反射光強等多種材料 垂直臺階,高寬深比,隆起,孔洞 脆性的材料,軟材料,柔性材料表面 尖銳的,堅硬的,磨損的表面 適應性強 白光光源,人體安全設計,長壽命白光LED 免維護。可以用于各種環境的實驗室,甚至工業生產環境。 接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術的完美結合 接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅動掃描模式,三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺掃描使用高級別光學參考平臺能使長程掃描范圍到50mm。 在掃描過程中結合彩色光學照相機可對樣品直接觀察 針尖掃描采用雙光學傳感器,同時擁有寬闊測量動態范圍(最大至500μm)及亞納米級垂直分辨率 (最小0.1nm ) 軟件設置恒定微力接觸(0.1 to 100 [mg])

雙模式表面三維輪廓儀

雙模式表面三維輪廓儀

  • 品牌: 美國AEP Technology
  • 型號: NanoMap-D(0)
  • 產地:美國
  • 供應商:aep Technology中國辦事處

    儀器簡介:NanoMap-D雙模式掃描三維表面輪廓儀是用于表面結構測量和表面形貌分析的一款測量計量型設備。既可以用于科學研究,也可以用于工業產品的檢測。1、三維表面結構:粗糙度,波紋度,表面結構,缺陷分析,晶粒分析等2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面4、薄膜和厚膜的臺階高度測量5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量6、微電子表面分析和MEMS表征主要特點: 包含接觸式和非接觸式兩種掃描方式 高精度 卓越的縱向分辨率:0.1 nm ( 接觸式);2 nm(光學非接觸式) 對周圍環境和光源的強適應性 沒有機械過濾 寬闊的垂直測量范圍 多種選擇光學頭及接觸式 縱向掃描范圍 300 to 3900 m 圖像“縫合”技術使再大的表面也能呈現在一幅圖像內 試用于幾乎所有的表面 透明,不透明,反射光強等多種材料 垂直臺階,高寬深比,隆起,孔洞 脆性的材料,軟材料,柔性材料表面 尖銳的,堅硬的,磨損的表面 適應性強 白光光源,人體安全設計,長壽命白光LED 免維護。可以用于各種環境的實驗室,甚至工業生產環境。 接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術的完美結合 接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅動掃描模式,三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺掃描使用高級別光學參考平臺能使長程掃描范圍到150mm。 在掃描過程中結合彩色光學照相機可對樣品直接觀察 針尖掃描采用雙光學傳感器,同時擁有寬闊測量動態范圍(最大至500μm)及亞納米級垂直分辨率 (最小0.1nm ) 軟件設置恒定微力接觸(0.1 to 100 [mg])

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